產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-10
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RB-2試塊/RB-2探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊
RB-2探傷試塊|啟航RB-2距離-波幅曲線試塊|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司優(yōu)惠價(jià)供應(yīng)
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線，調(diào)整探測(cè)范圍和掃查速度。測(cè)定斜探頭的K值。
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為φ3×40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線，調(diào)整探測(cè)范圍和掃查速度。測(cè)定斜探頭的K值。
RB-1試塊，適用于檢測(cè)工件厚度為≥8mm~25mm的焊接接頭。橫波檢驗(yàn)時(shí)直射波檢測(cè)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為5mm、10mm、15mm、20mm、一次反射波檢測(cè)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為30mm、35mm、40mm、45mm、二次反射波檢測(cè)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為55mm、60mm、65mm、70mm。縱波檢測(cè)時(shí)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度為5mm、10mm、15mm、20mm、50mm
RB-2試塊，適用于檢測(cè)工件厚度為≥8mm~100mm的焊接接頭。橫波檢驗(yàn)時(shí)直射波檢測(cè)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm，一次反射波檢測(cè)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為120mm、130mm、140mm、150mm、160mm、170mm、180mm、190mm、200mm、210mm?？v波檢測(cè)時(shí)所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm。
| 頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號(hào) | 焦距 | 插座 | |
| P型 | C型 | ||||
| 1.25 | 20 | 1.25P20 F5 | 1.25C20 F5 | 5 | Q6(雙) |
| 1.25P20 F15 | 1.25C20 F15 | 15 | |||
| 2.5 | 10 | 2.5P10 F5 | 2.5C10 F5 | 5 | |
| 2.5P10 F8 | 2.5C10 F8 | 8 | |||
| 2.5P10 F10 | 2.5C10 F10 | 10 | |||
| 14 | 2.5P14 F5 | 2.5C14 F5 | 5 | ||
| 2.5P14 F10 | 2.5C14 F10 | 10 | |||
| 2.5P14 F15 | 2.5C14 F15 | 15 | |||
| 2.5P14 F20 | 2.5C14 F20 | 20 | |||
| 2.5P14 F30 | 2.5C14 F30 | 30 | |||
| 20 | 2.5P20 F5 | 2.5C20 F5 | 5 | ||
| 2.5P20 F10 | 2.5C20 F10 | 10 | |||
| 2.5P20 F15 | 2.5C20 F15 | 15 | |||
| 2.5P20 F20 | 2.5C20 F20 | 20 | |||
| 2.5P20 F30 | 2.5C20 F30 | 30 | |||
| 5 | 6 | 5P6 F5 | 5C6 F5 | 5 | |
| 5P6 F8 | 5C6 F8 | 8 | |||
| 8 | 5P8 F5 | 5C8 F5 | 5 | ||
| 5P8 F8 | 5C8 F8 | 8 | |||
| 5P8 F10 | 5C8 F10 | 10 | |||
| 10 | 5P10 F5 | 5C10 F5 | 5 | ||
| 5P10 F8 | 5C10 F8 | 8 | |||
| 5P10 F10 | 5C10 F10 | 10 | |||
| 14 | 5P14 F5 | 5C14 F5 | 5 | ||
| 5P14 F10 | 5C14 F10 | 10 | |||
| 5P14 F15 | 5C14 F15 | 15 | |||
| 5P14 F20 | 5C14 F20 | 20 | |||
| 5P14 F30 | 5C14 F30 | 30 | |||
| 20 | 5P20 F5 | 5C20 F5 | 5 | ||
| 5P20 F10 | 5C20 F10 | 10 | |||
| 5P20 F15 | 5C20 F15 | 15 | |||
| 5P20 F20 | 5C20 F20 | 20 | |||
| 5P20 F30 | 5C20 F30 | 30 | |||
| 頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號(hào) | 插座 | |
| P型 | C型 | |||
| 2.5 | 8*12 | 2.5P8*12 K0.8 | 2.5C8*12 K0.8 | Q9 |
| 2.5P8*12 K1 | 2.5C8*12 K1 | |||
| 2.5P8*12 K1.5 | 2.5C8*12 K1.5 | |||
| 2.5P8*12 K2 | 2.5C8*12 K2 | |||
| 2.5P8*12 K2.5 | 2.5C8*12 K2.5 | |||
| 2.5P8*12 K3 | 2.5C8*12 K3 | |||
| 9*9 | 2.5P9*9 K0.8 | 2.5C9*9 K0.8 | ||
| 2.5P9*9 K1 | 2.5C9*9 K1 | |||
| 2.5P9*9 K1.5 | 2.5C9*9 K1.5 | |||
| 2.5P9*9 K2 | 2.5C9*9 K2 | |||
| 2.5P9*9 K2.5 | 2.5C9*9 K2.5 | |||
| 2.5P9*9 K3 | 2.5C9*9 K3 | |||
| 5 | 8*12 | 5P8*12 K0.8 | 5C8*12 K0.8 | |
| 5P8*12 K1 | 5C8*12 K1 | |||
| 5P8*12 K1.5 | 5C8*12 K1.5 | |||
| 5P8*12 K2 | 5C8*12 K2 | |||
| 5P8*12 K2.5 | 5C8*12 K2.5 | |||
| 5P8*12 K3 | 5C8*12 K3 | |||
| 9*9 | 5P9*9 K0.8 | 5C9*9 K0.8 | ||
| 5P9*9 K1 | 5C9*9 K1 | |||
| 5P9*9 K1.5 | 5C9*9 K1.5 | |||
| 5P9*9 K2 | 5C9*9 K2 | |||
| 5P9*9 K2.5 | 5C9*9 K2.5 | |||
| 5P9*9 K3 | 5C9*9 K3 | |||
| 頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號(hào) | 插座 | |
| P型 | C型 | |||
| 2.5 | 6*8 | 2.5P6*8 K0.8 | 2.5C6*8 K0.8 | Q9 |
| 2.5P6*8 K1 | 2.5C6*8 K1 | |||
| 2.5P6*8 K1.5 | 2.5C6*8 K1.5 | |||
| 2.5P6*8 K2 | 2.5C6*8 K2 | |||
| 5 | 6*6 | 5P6*6 K0.8 | 5C6*6 K0.8 | Q6 |
| 5P6*6 K1 | 5C6*6 K1 | |||
| 5P6*6 K1.5 | 5C6*6 K1.5 | |||
| 5P6*6 K2 | 5C6*6 K2 | |||
| 5P6*6 K2.5 | 5C6*6 K2.5 | |||
| 5P6*6 K3 | 5C6*6 K3 | |||
| 6*8 | 5P6*8 K0.8 | 5C6*8 K0.8 | Q9 | |
| 5P6*8 K1 | 5C6*8 K1 | |||
| 5P6*8 K1.5 | 5C6*8 K1.5 | |||
| 5P6*8 K2 | 5C6*8 K2 | |||
| 5P6*8 K2.5 | 5C6*8 K2.5 | |||
| 5P6*8 K3 | 5C6*8 K3 | |||
接收客戶定制各種規(guī)格的雙晶斜探頭，定制時(shí)請(qǐng)告知頻率、晶片大小、折射角或 K 值、焦點(diǎn)深度、前沿距離、外殼、接插頭等指標(biāo)要求。
該類試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)1及附錄E的要求而設(shè)計(jì)，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)1中橫波及縱波檢測(cè)以φ3mm橫孔為基準(zhǔn)設(shè)定靈敏度，試塊依據(jù)檢測(cè)范圍的不同共設(shè)計(jì)五塊試塊，試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表。
序號(hào) | 試塊代號(hào) | 試塊名稱 | 標(biāo)準(zhǔn)反射體(mm) | 檢測(cè)范圍(mm) |
1 | SD-1 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 8≤t≤15 |
2 | SD-2 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 15<t≤20< span=""> |
3 | SD-3 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 20<t≤40< span=""> |
4 | SD-4 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 40<t≤100< span=""> |
5 | SD-5 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | t>100 |
啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司是一家*從事無損檢測(cè)設(shè)備代理的公司，主營(yíng)超聲波檢測(cè)設(shè)備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，品牌有奧林巴斯NDT、美國(guó)磁通、美國(guó)sherwen、汕超、新美達(dá)、美國(guó)GE等多家產(chǎn)品。長(zhǎng)期以來，公司堅(jiān)持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。
公司提供的無損檢測(cè)儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測(cè)解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料超聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測(cè)系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測(cè)系統(tǒng)、汽車點(diǎn)焊超聲波成像分析儀和其它實(shí)驗(yàn)室儀器。
超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機(jī)、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護(hù)膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導(dǎo)波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強(qiáng)劑、密度計(jì)、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機(jī)、射線燈、個(gè)人劑量報(bào)警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測(cè)定管、直型測(cè)定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、白光照度計(jì)、紫外照度計(jì)、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護(hù)背心、鉛衣、像質(zhì)計(jì)、無損檢測(cè)配件、
長(zhǎng)期以來，依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍，本著誠(chéng)信守法，客戶*的經(jīng)營(yíng)原則，以良好的信譽(yù)、豐富的經(jīng)驗(yàn)、周到的服務(wù)，為客戶提供了的檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)解決方案，贏得了國(guó)內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評(píng)。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國(guó)的各種*工業(yè)領(lǐng)域，特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機(jī)構(gòu)等。
良好信譽(yù) – 啟航檢測(cè)科技作為無損檢測(cè)行業(yè)的，依托高素質(zhì)團(tuán)隊(duì)及誠(chéng)信周到的服務(wù)，得到了客戶的一致贊同。
豐富經(jīng)驗(yàn) – 啟航檢測(cè)科技的銷售人員及技術(shù)人員大部分都擁有本科及以上學(xué)歷，在無損檢測(cè)行業(yè)有著多年的經(jīng)驗(yàn)及*知識(shí)。
高效服務(wù) – 啟航檢測(cè)科技總部位于上海，全國(guó)主要城市設(shè)立分支機(jī)構(gòu)。任何時(shí)間和地點(diǎn)，隨時(shí)準(zhǔn)備好為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。
解決方案 – 啟航檢測(cè)科技依托高素質(zhì)的技術(shù)團(tuán)及*的本地化服務(wù)，我們隨時(shí)為您提供及時(shí)全面的無損檢測(cè)解決方案。
